Grafik für das Drucken der Seite Abbildung von Wang | MOS Interface Physics, Process and Characterization | 1. Auflage | 2024 | beck-shop.de

Wang

MOS Interface Physics, Process and Characterization

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Buch. Softcover

2024

174 S.

In englischer Sprache

CRC Press. ISBN 978-1-03-210628-1

Format (B x L): 15.2 x 22.9 cm

Gewicht: 262 g

Produktbeschreibung

The electronic device based on Metal Oxide Semiconductor (MOS) structure is the most important component of a large-scale integrated circuit and the key to achieving high performance devices. This book contains experimental examples focusing on MOS and will be a reference for academics and postgraduates in the field of microelectronics.

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