Neu Erschienen: 03.09.2024 Grafik für das Drucken der Seite Abbildung von Liu / Zhang | Proceedings of the TEPEN International Workshop on Fault Diagnostic and Prognostic | 1. Auflage | 2024 | beck-shop.de
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Liu / Zhang / Huang / Wang / Gu

Proceedings of the TEPEN International Workshop on Fault Diagnostic and Prognostic

TEPEN2024-IWFDP - Volume 3

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2024

597 S. X, 597 p. 372 illus., 315 illus. in color..

In englischer Sprache

Springer International Publishing. ISBN 978-3-031-69483-7

Das Werk ist Teil der Reihe: Mechanisms and Machine Science

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